17. Rahvusvaheline metroloogiakongress Pariisis 21.-24.09.2015

 

21.-24. septembril 2015 toimub Pariisis 17. Rahvusvaheline metroloogiakongress, mille tunnuslauseks on käesoleval aastal: „Mõõtmine, analüüs ja innovatsioon: pidev väljakutse!“.

 

Kongressil keskendutakse mõõtetehnoloogiatele, teadus-arenduse suundadele ja nende mõjule tööstuses. Tähelepanu keskmes on tööstusprotsesside ja riskijuhtimise igapäevane parendus mõõtmiste abil. Kongressi raames toimuvad ümarlauad, konverentsid, tehnikanäitused, ettevõtete külastused eesmärgiga tutvuda mõõteprotsesside arendamisega erinevates firmades ja laborites.

 

Lisateave kongressi kohta on leitav SIIT

 

Kontaktid:

Koduleht: www.metrologie2015.com

E-post: info@cfmetrologie.com

Telefon: +334 6706 2036